分析測試中心論壇(第二期)

創建時間:  2023-09-20  陳建銘   瀏覽次數:   返回

為充分發揮分析測試中心校級公共測試平臺服務理念,持續推進大型儀器設備優質資源開放共享力度🙍🏻‍♂️,使廣大師生深入了解中心新引進的儀器設備及相關前沿技術,特組織JEOL TEM /SEM /EPMA產品宣講會。會議期間🚼,JEOL資深應用工程師將介紹透射電鏡🔜、掃描電鏡、電子探針等相關設備的應用。 歡迎各位老師、同學參加🚴‍♂️,期待您的參與!


間:2023.9.26(周二)14:00-17:00

點🤳:B212會議室

線 上:騰訊會議 807-500-916 會議密碼 2023

聯系人👨‍👧:彭劍超(13764307893


論壇議程:

14:00~14:20

致辭 (李強 / 高橋宏行)

14:20~15:00

GrandARM球差電鏡/ F200透射電鏡應用介紹 (王靈靈)

15:10~15:50

JSM-IT800的特點介紹及CP在電鏡觀察中的應用 (王加亮)

15:50~16:00

休息

16:00~16:40

K因子在ZAF迭代計算中的作用和電子探針的應用 (胡晉生)






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